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数字系统调试过程中故障原因分析及对策
引用本文:杨俊华,赵滨华.数字系统调试过程中故障原因分析及对策[J].实验室科学,2007(5):140-142.
作者姓名:杨俊华  赵滨华
作者单位:河北师范大学电子系、物理与信息工程学院,河北石家庄,050031
摘    要:故障分析最困难的方面就是准确地找出造成故障的原因。数字系统中有时对输出响应的初步观察会发现一些难以理解、扑朔迷离的现象,一个简单的故障会引起多种多样的功能错误。就数字系统调试过程中常见的静态故障与动态故障进行了详细分析,并给出了相应的解决方法及使用注意事项。

关 键 词:数字系统  电路调试  静态故障  动态故障
修稿时间:2007-04-02

Analysis Of Causes And Countermeasure of Digital System Tests Process Middle Malfunction
YANG Jun-hua.Analysis Of Causes And Countermeasure of Digital System Tests Process Middle Malfunction[J].Laboratory Science,2007(5):140-142.
Authors:YANG Jun-hua
Abstract:
Keywords:
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