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| 稀磁半导体Zn—xMnxSe／GaAs外延膜光学特性研究 | |
| 作者姓名： | 史向华 刘小兵 |
| 摘 要： | 研究了用热壁外延法在GaAs衬底上生长的不同x含量的Zn1-xMnxSe薄膜,通过X射线衍射和喇曼光谱的研究表明,晶体的质量取决于Mn的含量,随着Mn的含量的增高,晶体的质量下降。 |
| 关 键 词： | X射线衍射谱 喇曼光谱 稀磁半导体 Zn1－xMnxSe薄膜 镓砷衬底 光学特性 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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