测度值分枝过程的伴随卷积半群 |
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引用本文: | 李增沪.测度值分枝过程的伴随卷积半群[J].科学通报,1995,40(22):2017-2017. |
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作者姓名: | 李增沪 |
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作者单位: | 北京师范大学数学系 北京100875 |
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摘 要: | 设E是Lusin拓扑空间,(?)(E)是由E的所有开子集产生的σ-代数,即E的Borel σ-代数.以B(E)记E上所有有界(E)-可测函数的全体,B(E)~+表示B(E)中非负元素构成的子集.设M(E)是(E,(?)(E))上全体有限测度构成的空间并装备了弱收敛拓扑,则M(E)也成为Lusin拓扑空间.令M(E)°=M(E)\{o},其中o表示E上的零测度.集中于点x∈E的单位测度记为δ_x.对于f∈B(E)和μ∈M(E)记μ(f)=∫fdμ.假定X=(W,(?),(?),X_t,Q_u)是M(E)
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关 键 词: | 测度值分枝过程 进入律 伴随卷积半群 |
收稿时间: | 1994-05-30 |
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