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| 用试探值α分析InGaAs／InP异质界面 | |
| 引用本文： | 汪开源,黄玉辉.用试探值α分析InGaAs／InP异质界面[J].东南大学学报(自然科学版),1989,19(4):130-134. |
| 作者姓名： | 汪开源 黄玉辉 |
| 作者单位： | 东南大学电子工程系，东南大学电子工程系，东南大学电子工程系 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 试探值α 异质界面 InGaAs／InP |
Analysing InGaAs/InP Heterogeneous Interface with Trial Value |
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| Wang Kaiyuan Huang Yuhui Cao Kangmin.Analysing InGaAs/InP Heterogeneous Interface with Trial Value[J].Journal of Southeast University(Natural Science Edition),1989,19(4):130-134. | |
| Authors: | Wang Kaiyuan Huang Yuhui Cao Kangmin |
| Institution: | Department of Electron Engineering |
| Abstract: | |
| Keywords: | liquid phase epitaxiae growth heterogeneous Auger electron spectrometry / transition layer |
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