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金属掺杂多孔硅薄膜的制备及荧光光谱研究
引用本文:孙小菁,马书懿,魏晋军,徐小丽. 金属掺杂多孔硅薄膜的制备及荧光光谱研究[J]. 西北师范大学学报(自然科学版), 2007, 43(6): 38-41
作者姓名:孙小菁  马书懿  魏晋军  徐小丽
作者单位:西北师范大学物理与电子工程学院,甘肃兰州730070
基金项目:国家自然科学基金;教育部科学技术研究重点项目;甘肃省重点实验室基金
摘    要:用电化学方法对多孔硅薄膜进行了金属掺杂.用荧光分光光度计分析了样品的光致发光特性,结果表明,适量的金属掺杂增强了多孔硅的红光发射,氧化性金属掺杂还增强了多孔硅的蓝光发射,还原性金属掺杂却无此现象.红外吸收谱表明,金属掺杂多孔硅后Si—O—Si键振动增强.XRD谱表明,氧化性金属掺杂后多孔硅的无定形程度增强.对分析结果的解释为:红光增强是金属掺杂引入新的缺陷和硅、氧、金属间新的键态Si—Metal,Metal—O,Metal—Metal所致,而蓝光增强是无定形程度增强,应力增大和进一步氧化所致.

关 键 词:金属掺杂多孔硅  电化学  光致发光  X射线衍射  红外吸收
文章编号:1001-988X(2007)06-0038-04
修稿时间:2006-12-20

Study on fabrication and fluorescent property of metal-doped porous silicon
SUN Xiao-jing,MA Shu-yi,WEI Jin-jun,XU Xiao-li. Study on fabrication and fluorescent property of metal-doped porous silicon[J]. Journal of Northwest Normal University Natural Science (Bimonthly), 2007, 43(6): 38-41
Authors:SUN Xiao-jing  MA Shu-yi  WEI Jin-jun  XU Xiao-li
Abstract:
Keywords:metal-doped porous silicon  electrochemistry  photoluminescence  XRD  FTIR
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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