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| 光谱图像的标准具效应 | |
| 摘 要： | 在进行光谱数据测量时,在原本平坦的光谱中常会出现类似正弦的周期振荡,称为标准具效应(Etaloning effects).标准具效应严重影响了系统的测量精度和数据后续处理的难度.从光学系统表面光学膜层方向来分析这种类似正弦振荡的现象,并针对与多膜层相似结构的法布里珀罗结构,分析找到这种标准具效应的主要原因是膜层结构影响,同时提出了通过改变光学结构表面膜层来改善和消除这种影响测量结果的标准具效应.最后在软件和硬件方面都提出了相应的改善方法. |
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