| 对数正态型产品基于验后概率的Bayes序贯检验技术 |
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| 引用本文： | 唐旻,刘琦. 对数正态型产品基于验后概率的Bayes序贯检验技术[J]. 科学技术与工程, 2013, 13(31) |
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| 作者姓名： | 唐旻 刘琦 |
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| 作者单位： | 国防科学技术大学信息系统与管理学院管理系,国防科学技术大学信息系统与管理学院管理系 |
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| 摘 要： | 现代高技术装备由于小子样的条件限制，运用传统统计方法对装备性能参数进行假设检验存在困难。对于维修时间服从对数正态分布的装备，提出了基于验后概率和小概率事件原理的基本假设，建立了对数正态型产品基于验后概率的Bayes序贯检验（BSToLP）模型，推导了验后风险的计算公式，归纳了基于验后概率的Bayes序贯检验法则，并给出计算所得的实际验后风险低于给定验后风险的证明。最后结合装备示例，进行可靠性分析，验证了该方法的可行性及优越性。
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| 关 键 词： | Bayes方法；验后概率；序贯检验；对数正态型产品 |
| 收稿时间： | 2013-06-26 |
| 修稿时间： | 2013-06-29 |
Bayesian Sequential Test Technique of Lognormal Product Based on Posterior Probability |
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| tangmin and liuqi. Bayesian Sequential Test Technique of Lognormal Product Based on Posterior Probability[J]. Science Technology and Engineering, 2013, 13(31) |
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| Authors: | tangmin and liuqi |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Bayesian Method Posterior Probability Sequential Test Lognormal Product |
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