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| 电子自旋弛豫机理研究 | |
| 引用本文： | 吴羽.电子自旋弛豫机理研究[J].牡丹江师范学院学报(自然科学版),2007(4):19-20. |
| 作者姓名： | 吴羽 |
| 作者单位： | 广州大学实验中心,广东,广州,510006 |
| 摘 要： | 确定电子自旋稳定性的最重要的性质是自旋弛豫时间,文中介绍了DP、EY、BAP等三种重要的自旋弛豫机制以及它们的实验进展,为室温下可以使用的自旋电子器件设计提供了重要依据. |
| 关 键 词： | 自旋弛豫 电子 空穴 自旋电子器件 |
| 文章编号： | 1003-6180（2007）04-0019-02 |
| 收稿时间： | 2007-07-15 |
| 修稿时间： | 2007年7月15日 |
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