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| 密度泛函理论计算半导体材料的带隙误差研究 | |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院 北京计算科学研究中心,北京 100193;中国工程物理研究院 研究生院,北京 100193;中国工程物理研究院 北京计算科学研究中心,北京 100193 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 密度泛函理论 半导体材料 带隙 局域密度近似 广义梯度近似 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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