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| 实用BiCMOS倒相器可测性设计 | |
| 作者姓名： | 叶波 |
| 作者单位： | 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433(叶波)，复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433(郑增钰) |
| 摘 要： | BiCMOS电路由于具有Bipolar和CMOS的优点,即高集成度、大驱动能力和高速等优点,而且其工艺与CMOS工艺兼容,在高速和数模混合的集成电路中得到了广泛的应用.但随着集成电路规模的增大,尤其是BiCMOS电路本身的复杂性,测试时间、测试图形生成时间及所需数据量均增加很快,测试成本随之增高,因而研究BiCMOS电路的可测性设计方法是很有必要的.目前,关于BiCMOS电路的可测性设计方法还不多见.Salama与Elmasry提出的方法虽然能够测出电路的常见故障,但这种方法占用芯片面积大,故障覆盖率不高,当电路规模很大时难以使用. |
| 关 键 词： | BiCMOS 倒相器 可测性设计 BiCMOS电路 集成电路 |
| 收稿时间： | 1994-06-10 |
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