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| X射线显微成像中的光子统计噪声分析 | |
| 引用本文： | 吴路崎,高 昆,陈 健,等.X射线显微成像中的光子统计噪声分析[J].中国科学技术大学学报,2014(3):227-232. |
| 作者姓名： | 吴路崎 高 昆 陈 健 等 |
| 作者单位： | 中国科学技术大学国家同步辐射实验室;中国科学技术大学核科学技术学院; |
| 摘 要： | 光子统计噪声是X射线显微成像中影响图像质量的主要因素之一,它对图像质量的影响一般用信噪比来描述.研究表明,X射线显微图像的信噪比随着入射光子数的增加而增加;但由于X射线会对样品带来损伤,所以实验中要求尽量减少入射的X光光子数.但是传统的基于经验数据的罗斯判据并不能给出客观的答案,特别对经过图像减影处理的带噪图像,罗斯判据并不适用.这里提出"区分概率"的概念对罗斯判据进行分析和改进,有助于找出所需最小入射光子数.将区分概率运用到图像减影法中进行模拟,求出此图像处理方法下所需最小入射光子数.最后得出区分概率在0.4时是图像中物体与背景部分得以区分的一个较合理阈值的结论. |
| 关 键 词： | 图像衬度 信噪比 罗斯判据 区分概率 图像减影 |
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