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砷压热处理对半绝缘GaAs性能的影响
引用本文:王松柏,张声豪.砷压热处理对半绝缘GaAs性能的影响[J].福建师范大学学报(自然科学版),2003,19(1):41-44.
作者姓名:王松柏  张声豪
作者单位:1. 福州大学电子系,福建,福州,350002
2. 厦门大学物理系,福建,厦门,361005
基金项目:福建省教育厅基金资助项目 ( JB0 10 16 )
摘    要:采用5种经不同砷压但相同生长温度(1000℃)和时间(5h)处理的半绝缘(SI)GaAs样品,利用表面光伏(SPV)方法,测量和计算了SI-GaAs在室温(300K)下的主要施主浓度EL2、禁带宽度Egг和双极扩散长度La,并从理论上给相应的解释。

关 键 词:半绝缘GaAs  砷压热处理  主要施主浓度  禁带宽度  双极扩散长度  半导体材料  半绝缘性质
文章编号:1000-5277(2003)01-0041-04
修稿时间:2002年10月18

The Influence Upon SI GaAs's Character by Different Arsenic Pressure in the Process of Heat Treatment
WANG Song-bai,ZHANG Sheng-hao.The Influence Upon SI GaAs''s Character by Different Arsenic Pressure in the Process of Heat Treatment[J].Journal of Fujian Teachers University(Natural Science),2003,19(1):41-44.
Authors:WANG Song-bai  ZHANG Sheng-hao
Institution:WANG Song-bai1,ZHANG Sheng-hao2
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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