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三维残余应力及深度分布的X射线分析和计算
引用本文:陈玉安 周上祺 等. 三维残余应力及深度分布的X射线分析和计算[J]. 重庆大学学报(自然科学版), 2002, 25(1): 40-43
作者姓名:陈玉安 周上祺 等
作者单位:重庆大学材料科学与工程学院 重庆400044(陈玉安,周上祺),重庆大学材料科学与工程学院 重庆400044(韩宪兵)
基金项目:教育部博士点基金资助项目 ( 2 0 0 0 85 )
摘    要:针对X射线法在测定铍等轻元素材料内部残余应力及其深度分布时的不足,研究一种分析和计算轻元素材料内部全三维残余应力及其深度分布的新方法,提出了包括考虑平衡条件和表面边界条件的基于线弹性理论的一种模型方程,对分析和计算原理,实验装置和实验作了介绍,编制出相应的计算机数据处理程序,能够对轻元素材料表面及内部任何一点进行全三维残余应力分析和计算,文中最后用铍的实验数据对程序进行了验证,结果表明,正应力分量σ11,σ22随黉度的变化较大,而切应力分量σ12,σ13和σ23及正应力分量σ33均很小。

关 键 词:应力分析 三维残余应力 X射线衍射 X射线积分法 计算 深度分布 金属材料 轻元素材料 X射线分析 金属材料
文章编号:1000-582X(2002)01-0041-04
修稿时间:2001-08-15

Method to Analyze and Evaluate the Depth Profile of the Three Dimensional Residual Stresses State with X-ray
CHEN Yu an,ZHOU Shang qi,HAN Xian bing. Method to Analyze and Evaluate the Depth Profile of the Three Dimensional Residual Stresses State with X-ray[J]. Journal of Chongqing University(Natural Science Edition), 2002, 25(1): 40-43
Authors:CHEN Yu an  ZHOU Shang qi  HAN Xian bing
Abstract:
Keywords:X ray stress analysis  residual stresses  x ray diffraction  X ray integral method
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