| 提高半导体激光器可靠性的研究 |
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| 引用本文： | 李明亮 王祖朝 王广祥 朱月红. 提高半导体激光器可靠性的研究[J]. 科学技术与工程, 2006, 6(16): 2545-2547 |
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| 作者姓名： | 李明亮 王祖朝 王广祥 朱月红 |
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| 作者单位： | 中国地质大学(北京)信息工程学院,北京,100083;石家庄经济学院,石家庄,050031;中国地质大学(北京)信息工程学院,北京,100083;石家庄经济学院,石家庄,050031 |
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| 基金项目： | 河北省科技厅项目（03213534）资助 |
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| 摘 要： | 半导体激光器广泛应用于高新技术领域，其可靠性是应用系统可靠性的关键。通过研究半导体激光器的可靠性及其规律．采用电导测试技术评价半导体激光器质量和可靠性，并在器件制造、器件筛选和器件使用三个环节提出新的提高半导体激光器可靠性的措施。
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| 关 键 词： | 半导体激光器 可靠性 器件筛选 电导测试技术 |
| 文章编号： | 1671-1815（2006）16-2545-03 |
| 收稿时间： | 2006-04-17 |
| 修稿时间： | 2006-04-17 |
Research on Improving the Reliability of Semiconductor Laser |
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| LI Mingliang,WANG Zuchao,WANG Guangxiang,ZHU Yuehong,Beijing ; Shijiazhuang University of Economics,Shijiazhuang. Research on Improving the Reliability of Semiconductor Laser[J]. Science Technology and Engineering, 2006, 6(16): 2545-2547 |
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| Authors: | LI Mingliang,WANG Zuchao,WANG Guangxiang,ZHU Yuehong,Beijing Shijiazhuang University of Economics,Shijiazhuang |
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| Affiliation: | LI Mingliang, WANG Zuchao, WANG Guangxiang,ZHU Yuehong , Beijing 10083 ; Shijiazhuang University of Economics, Shijiazhuang 050031 ) |
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| Abstract: | Semiconductor LD is widely used in high-tech fields. Its reliability is the key point to application system. The quality and reliability of semiconductor LD by adopting conductivity test based on the investigation of its reliability and regulation are estimated. Finally new methods to improve its reliability during the course of device produce, device screening and device use are put forward. |
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| Keywords: | semiconductor LD reliability device screening conductivity test |
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