| 外电场下扫描隧道显微镜铱针尖电子结构的理论研究 |
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| 引用本文： | 邝向军.外电场下扫描隧道显微镜铱针尖电子结构的理论研究[J].西南科技大学学报,2001,16(4):65-69. |
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| 作者姓名： | 邝向军 |
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| 作者单位： | 西南科技大学数理科学系,四川,绵阳,610002 |
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| 基金项目： | 四川省教委青年科学基金 |
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| 摘 要： | 本文利用离散变分-局域自旋密度泛函方法,对外电场作用下的扫描隧道显微镜(简称STM)铱针尖电子结构进行了研究,并对同一针尖在不同的极性偏压下,可以获得不同分辨率的STM图象的实验事实进行了初步解释.
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| 关 键 词： | 扫描隧道显微镜 铱针尖 电子结构 |
| 文章编号： | 1007-8916(2001)04-0065-05 |
| 修稿时间： | 2001年9月3日 |
THEORETICAL STUDY ON THE ELECTRONIC STRUCTURE OF STM IRIDIUM TIP UNDER EXTERNAL ELECTRIC FIELD |
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| Kuang Xiangjun.THEORETICAL STUDY ON THE ELECTRONIC STRUCTURE OF STM IRIDIUM TIP UNDER EXTERNAL ELECTRIC FIELD[J].Journal of Southwest University of Science and Technology,2001,16(4):65-69. |
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| Authors: | Kuang Xiangjun |
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| Institution: | Southwest University of Science and Technology |
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| Abstract: | At present paper,by using the discrete variational-local spin density function method,the electronic structure of iridium tip under external electric field is studied. From our study,we explained the experiment phenomenon of the STM image resolution changing with the external electric field. |
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| Keywords: | scanning tunneling microscope iridium tip electronic structure |
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