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| X射线衍射法鉴定液晶相结构原理 | |
| 引用本文： | 郑安呐,陈建定,吴叙勤.X射线衍射法鉴定液晶相结构原理[J].自然杂志,1991(7). |
| 作者姓名： | 郑安呐 陈建定 吴叙勤 |
| 作者单位： | 华东化工学院 (郑安呐，陈建定)，华东化工学院(吴叙勤) |
| 摘 要： | 液晶已被广泛应用于现代科学技术。液晶相结构的鉴定是开发和应用液晶物质必不可少的一个过程。目前,X射线衍射(XRD)被认为是一种最为权威的方法,用它除了可测定液晶分子结构参数外,还可鉴别液晶物质在分子水平上的堆砌状态以及液晶相分子序的类型。于是,与液晶态相对应的XRD图形的分析就成为液晶研究中所关注的一个方面。 |
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