PT/PZT/PT铁电薄膜的电畴结构与极化保持特性 |
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作者姓名: | 王龙海 于军 赵素玲 郑朝丹 王耘波 高峻雄 |
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作者单位: | 1. 武汉工程大学电气信息学院,武汉,430073;华中科技大学电子科学与技术系,武汉,430074 2. 华中科技大学电子科学与技术系,武汉,430074 3. 武汉理工大学测试中心,武汉,430070 |
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基金项目: | 国家自然科学基金;国家自然科学基金 |
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摘 要: | 用Sol-Gel法制备出了具有良好铁电性、纯钙钛矿结构的PbTiO3/Pb (Zr0.3Ti0.7)O3/PbTiO3铁电薄膜. 在扫描力显微镜的压电响应模式下, 薄膜电畴压电响应的振幅像和相位像都表现为亮暗(黑白)和灰度衬度. 其复杂的畴衬度可归因于晶粒的结晶取向和畴排列所致. 对于亮暗衬度区域, 对应着极化方向相反的c畴. 灰色衬度区域对应着偏离膜平面垂直方向的c畴. 电场力响应模式下经12 V极化后测得的表面电势图显示, 电畴取向极化后, 薄膜表面将俘获正电荷. 这些俘获的正电荷, 使薄膜表面这一区域呈高电势的亮区. 在不同时间测得的表面电势图和表面电势线扫描信号可看出, 表面势将随着时间的变化而降低, 且强电场极化的区域, 15 min内表面电势下降迅速; 弱场极化的区域表面电势变化缓慢. 说明薄膜的极化保持特性与极化场强有密切的关系, 在合适的电场下, 薄膜极化后将会有较好的保持特性.
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关 键 词: | 电畴 极化保持特性 扫描力显微镜 铁电薄膜 |
收稿时间: | 2005-06-28 |
修稿时间: | 2005-06-282006-12-14 |
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