| ZnS薄膜的电沉积及表征 |
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| 引用本文： | 翁晴,程树英. ZnS薄膜的电沉积及表征[J]. 福州大学学报(自然科学版), 2008, 36(1): 73-76 |
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| 作者姓名： | 翁晴 程树英 |
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| 作者单位： | 1. 福州大学食品安全分析与检测教育部重点实验室,化学化工学院,福建,福州,350002
2. 福州大学食品安全分析与检测教育部重点实验室,化学化工学院,福建,福州,350002;福州大学物理与信息工程学院,福建,福州,350002 |
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| 基金项目： | 福建省自然科学基金 , 福建省科技三项项目 |
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| 摘 要： | 利用恒电位电沉积技术实现在ITO导电玻璃上沉积ZnS薄膜,用X射线粉末衍射、扫描电镜、原子力显微镜和X射线光电子能谱对制得的薄膜进行了研究.实验表明,用该方法制得的薄膜样品的主要成分是α-ZnS,薄膜表面均匀、致密和平整,平均粗糙度为3.112 nm,颗粒的粒径大约为50~100 nm.该薄膜中Zn原子和S原子化合价分别为+2价和-2价,原子个数比接近于1∶1,没有探测到单质元素(Zn或S)沉积.
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| 关 键 词： | ZnS薄膜 电沉积 XRD SEM AFM XPS |
| 文章编号： | 1000-2243(2008)01-0073-04 |
| 修稿时间： | 2007-05-08 |
Electrodeposition and characterization of ZnS thin films |
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| WENG Qing,CHENG Shu-ying. Electrodeposition and characterization of ZnS thin films[J]. Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition), 2008, 36(1): 73-76 |
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| Authors: | WENG Qing CHENG Shu-ying |
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| Affiliation: | 1,2(1.Ministry of Education Key Laboratory of Analysis and Detection Technology for Food Safety,College of Chemistry and Chemical Engineering,Fuzhou University,Fuzhou,Fujian 350002,China;2.College of Physics and Information Engineering,Fuzhou University,Fuzhou,Fujian 350002,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ZnS film electro deposition XRD SEM AFM XPS |
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