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| 半导体测试系统优化 | |
| 引用本文： | 何宝华,冯凯,张燕燕,朱传敏.半导体测试系统优化[J].佳木斯大学学报,2011(5):693-695,698. |
| 作者姓名： | 何宝华 冯凯 张燕燕 朱传敏 |
| 摘 要： | 为了进一步提高半导体测试生产中设备利用率、按期交货率和较低的在制品水平,改进改进半导体测试系统性能,本文提出了不同工件混合生产与设备专用生产相结合的生产模式.并在现有的MODD调度方法基础上,加入了设备切换准备时间的影响.用双向选择的方法,进一步改善了调度方法,减少了设备切换次数和切换时间.通过在仿真模型中的试验,验证... |
| 关 键 词： | 半导体测试系统 动态调度 生产模式 系统优化 |