| 大规模集成电路测试技术 |
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| 引用本文： | 缪达.大规模集成电路测试技术[J].西安科技大学学报,1991(1). |
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| 作者姓名： | 缪达 |
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| 作者单位： | 西安公路学院 |
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| 摘 要： | 本文主要介绍了在大规模集成电路中,必须考虑的电路测试技术的一些设计方法,同时论述了对集成电路芯片功能测试的实现以及用计算机系统对芯片测试的方法。
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| 关 键 词： | 可测性设计 故障模型 激励向量 响应向量 |
TEST TECHNOLOGY OF LSI |
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| Miao Da.TEST TECHNOLOGY OF LSI[J].JOurnal of XI’an University of Science and Technology,1991(1). |
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| Authors: | Miao Da |
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| Abstract: | In this paper some design methods in which the test technology of circuit in LSI must be considered are mainly introduced. Meanwhile, it discusses the implementation of the function test of IC and the test method of IC With computer system. |
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| Keywords: | design for testability fault model excitation vector response vector |
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