| 薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究 |
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| 引用本文： | 崔甲武,赵志国,张绍武.薄膜磁阻效应计算机控制自动测试方法的研究[J].河南科学,2001,19(2):140-145. |
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| 作者姓名： | 崔甲武 赵志国 张绍武 |
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| 作者单位： | [1]南阳师范学院物理系，河南南阳473061 [2]洛阳师范学院物理系，河南洛阳461022 [3]河南省科学院应用物理研究所，河南郑州450008 |
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| 基金项目： | 河南省教委自然科学基础研究项目!(2 0 0 0 140 0 0 8) |
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| 摘 要： | 采用单片机8031来模拟三角波输出而产生超低频扫场电源，用四探针、六探针测量法，实现对薄膜磁阻效应的自动测试。
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| 关 键 词： | 薄膜材料 磁性薄膜 磁阻效应 探针 单片机 计算机控制 自动测试 |
| 文章编号： | 1004-3918(2001)02-0140-06 |
| 修稿时间： | 2001年2月18日 |
Research on film magnetic-resistance effect measured automatically by computer control |
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| CUI Jia wu\,ZHAO Zhi guo\,ZHANG Shao wu\.Research on film magnetic-resistance effect measured automatically by computer control[J].Henan Science,2001,19(2):140-145. |
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| Authors: | CUI Jia wu\ ZHAO Zhi guo\ ZHANG Shao wu\ |
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| Institution: | CUI Jia wu\+1,ZHAO Zhi guo\+2,ZHANG Shao wu\+3 |
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| Abstract: | The ultralow frequency scanning field power supply is obtained by chip microprocessors 8031 simulating triangular wave output. The thin film magnetic resistance effect is measured automatically by four probes and six probes measure methods. |
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| Keywords: | thin film magnetic resistance effect probe chip microprocessors |
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