| 高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用 |
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| 引用本文： | 陈辉,申敏,刘树军. 高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用[J]. 重庆邮电大学学报(自然科学版), 2006, 18(3): 299-302,316 |
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| 作者姓名： | 陈辉 申敏 刘树军 |
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| 作者单位： | 重庆重邮信科股份有限公司3G研究院,重庆,400065 |
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| 摘 要： | 介绍了基于事务级验证的验证方法学(RVM)和覆盖率驱动技术,以及如何将RVM方法学和覆盖率驱动技术结合而搭建高效的验证平台,并详细分析了使用此验证平台对TD-SCDMA终端芯片进行完备和高效的RTL级功能验证.此验证平台比传统验证平台在效率上大大提高,有效地缩短了SoC芯片模块级和系统级的验证时间,缩短了3 SoC芯片的开发周期.
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| 关 键 词： | 片上系统 待验证模块 验证方法学(RVM) 覆盖率驱动 RVM验证平台 引用模型 |
| 文章编号： | 1004-5694(2006)03-0299-04 |
| 修稿时间： | 2006-01-11 |
Application of more effective test-bench in TD-SCDMA chip verification |
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| CHEN Hui,SHEN Min,LIU Shu-jun. Application of more effective test-bench in TD-SCDMA chip verification[J]. Journal of Chongqing University of Posts and Telecommunications, 2006, 18(3): 299-302,316 |
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| Authors: | CHEN Hui SHEN Min LIU Shu-jun |
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