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| ICP—AES法同时测定工业硅中微量Fe,Al,Ca,Mg,Mn | |
| 引用本文： | 王肇中,陈新华.ICP—AES法同时测定工业硅中微量Fe,Al,Ca,Mg,Mn[J].许昌师专学报,2000,19(5):47-49. |
| 作者姓名： | 王肇中 陈新华 |
| 作者单位： | [1]北京矿冶研究总院分析室 [2]许昌师专 |
| 摘 要： | 本研究了工业硅中微量杂质元素Ｆｅ、Ａｌ、Ｃａ、Ｍｇ、Ｍｎ电感耦合等离子体原子发射光谱（ＩＣＰ－ＡＥＳ）的测定方法。样品以ＨＮＯ３、ＨＦ和高ＨＣｌＯ４溶解，蒸干，用盐酸浸取，定容，在选定的仪器条件和测定介质上测定结果。该法简便、快速、准确，选用多元素测定方式，可以同时测定这５种元素的结果，这５种元素的回收率在９３．９％－１０３．９％之间，相对标准偏差在１．３％－４．０％之间。 |
| 关 键 词： | 工业硅 杂质元素 微量分析 光谱分析 |
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