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Al金属多晶硅纳米膜欧姆接触的制作
引用本文:崔虹云,张海丰,吴云飞. Al金属多晶硅纳米膜欧姆接触的制作[J]. 佳木斯大学学报, 2009, 27(5): 711-714
作者姓名:崔虹云  张海丰  吴云飞
作者单位:佳木斯大学理学院;
摘    要:利用低压化学气相淀积法(LPCVD)在表面有热氧化二氧化硅的(100)硅衬底上生长80nm厚多晶硅纳米膜,并对其界面进行表征.制作出单层Al金属的欧姆接触样品,在不同退火温度条件下对样片的电阻进行测量.结果表明,退火使欧姆接触的电阻率降低,接触电阻率可达到2.41×10-3Ω.cm2.

关 键 词:多晶硅纳米膜  欧姆接触  接触电阻率  

Formation of Al Ohmic Contacts to Polysilicon Nanofilms
CUI Hong-yun,ZHANG Hai-feng,WU Yun-fei. Formation of Al Ohmic Contacts to Polysilicon Nanofilms[J]. Journal of Jiamusi University(Natural Science Edition), 2009, 27(5): 711-714
Authors:CUI Hong-yun  ZHANG Hai-feng  WU Yun-fei
Affiliation:College of Natural Science;Jiamusi University;Jiamusi 154007;China
Abstract:
Keywords:polysilicon nanofilms  ohmic contact  contact resistivity  
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