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丝阵负载Z箍缩可见光图像诊断
引用本文:盛亮,吕敏,王奎禄,黑东炜,邱孟通,魏福利.丝阵负载Z箍缩可见光图像诊断[J].清华大学学报(自然科学版),2007,47(6):851-854.
作者姓名:盛亮  吕敏  王奎禄  黑东炜  邱孟通  魏福利
作者单位:清华大学,工程物理系,北京,100084;西北核技术研究所,西安,710024;西北核技术研究所,西安,710024
摘    要:为了研究丝阵负载Z箍缩内爆动力学行为,利用可见光图像诊断系统,在“强光1号”加速器上,得到钨丝阵负载内爆图像。对于32根丝直径为5μm的丝阵,内爆时间为(113±7)ns,开始快速内爆的时刻(ta)与内爆时间(timp)的比值为0.60~0.70。对于24根丝直径为8μm的丝阵,单丝烧蚀不均匀,在轴向上存在类周期性的调制,其波长λ约为0.25 mm;丝周围等离子体不稳定性的发展是促使其形成壳层的重要因素;内爆时间约为(160±5)ns,开始快速内爆时刻与内爆时间的比值为0.90~0.95。线质量的差异是导致两者内爆行为差异的主要因素。

关 键 词:等离子体  丝阵负载Z箍缩  光图像诊断  内爆
文章编号:1000-0054(2007)06-0851-04
修稿时间:2006年4月24日

Optical image diagnostics of a wire array Z pinch
SHENG Liang,LV Min,WANG Kuilu,HEI Dongwei,QIU Mengtong,WEI Fuli.Optical image diagnostics of a wire array Z pinch[J].Journal of Tsinghua University(Science and Technology),2007,47(6):851-854.
Authors:SHENG Liang  LV Min  WANG Kuilu  HEI Dongwei  QIU Mengtong  WEI Fuli
Abstract:
Keywords:plasma  wire array Z pinch  optical image diagnostics  implosion
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