| 还原气氛热处理对 BaTiO_3 热敏电阻性能的影响 |
| |
| 引用本文： | 周东祥,姜胜林,龚树萍,罗勇.还原气氛热处理对 BaTiO_3 热敏电阻性能的影响[J].华中科技大学学报(自然科学版),1997(10). |
| |
| 作者姓名： | 周东祥 姜胜林 龚树萍 罗勇 |
| |
| 作者单位： | 华中理工大学固体电子学系 |
| |
| 基金项目： | 国家高科技计划“863”资助项目 |
| |
| 摘 要： | 对常温阻值大于标称阻值ＰＴＣＲ热敏电阻在还原气氛中（氧分压ｌｇ｛ｐＯ２｝Ｐａ＝－４．１１０６～－４．０５４７）于６００℃，８００℃和９００℃分别处理２ｈ，４ｈ和６ｈ，对处理后的热敏电阻电性能及老化特性进行了研究．结果表明，在满足产品电性能要求的前提下，还原气氛热处理在一定程度上可以调整ＰＴＣＲ热敏电阻的常温阻值，提高产品的合格率．
|
| 关 键 词： | 还原气氛 热处理 PTCR热敏电阻 |
Effects of Heat Treatment under Reduction Atmosphere on the PTCR Properties of BaTiO 3 Thermistors |
| |
| Zhou Dongxiang Dept. of Solid State Electronics,HUST,Wuhan ,China. Jiang Shenglin Gong Shuping Luo Yong.Effects of Heat Treatment under Reduction Atmosphere on the PTCR Properties of BaTiO 3 Thermistors[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,1997(10). |
| |
| Authors: | Zhou Dongxiang Dept of Solid State Electronics HUST Wuhan China Jiang Shenglin Gong Shuping Luo Yong |
| |
| Institution: | Zhou Dongxiang Dept. of Solid State Electronics,HUST,Wuhan 430074,China. Jiang Shenglin Gong Shuping Luo Yong |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | reduction atmosphere heat treatment PTCR thermistor |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
