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基于系统隐藏寿命数据的串联系统可靠性估计
引用本文:雷小平,蔡静,赵明.基于系统隐藏寿命数据的串联系统可靠性估计[J].贵州大学学报(自然科学版),2006,23(3):245-248,256.
作者姓名:雷小平  蔡静  赵明
作者单位:贵州大学工业经济工程研究所,贵州,贵阳,550025;贵州大学工业经济工程研究所,贵州,贵阳,550025;贵州大学工业经济工程研究所,贵州,贵阳,550025
摘    要:作者提出了一种估计串联系统可靠性的新的方法.该方法综合运用了系统水平和元件水平的部分数据.众所周知,一个串联系统的可靠度等于所有元件可靠度的乘积.为了精确估计所有元件的可靠度,我们必须充分利用所有测试数据信息.但是,由于在系统水平的数据中存在一些隐藏数据,我们必须通过一种EM算法来计算以系统水平测试数据为条件的元件的失效概率.另外,作者还提出了一个研究案例.

关 键 词:串联系统  可靠性  隐藏数据  EM算法
文章编号:1000-5269(2006)03-0245-04
收稿时间:2006-05-09
修稿时间:2006-05-09

Reliability Estimation of Series System Based on Masked System Life Data
LEI Xiao-ping,CAI Jing,ZHAO Ming.Reliability Estimation of Series System Based on Masked System Life Data[J].Journal of Guizhou University(Natural Science),2006,23(3):245-248,256.
Authors:LEI Xiao-ping  CAI Jing  ZHAO Ming
Institution:Institute of Industrial Economical Engineering of Guizhou University, Guiyang, Guizhou, 550025, China
Abstract:Author presents a newway for reliability estimation of series system based on both parts ofsystem-level data and parts of component-level data.Itis well known thatfor series system,its reliabil-ity equals to product of all components reliability.In order to estimate all components reliability accu-rately,we must make full use of all testing data information.But as the presence of some masked datain system-level data,we have to calculate the failure probability of components conditioned on system-level testing data by a developed EMalgorithm.Furthermore,a numerical case study is presented.
Keywords:Series system  reliability  masked data  EMalgorithm
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