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InGaAs短波红外探测器的光电机理
引用本文:邵海洋,邢怀中.InGaAs短波红外探测器的光电机理[J].东华大学学报(自然科学版),2019(1):158-162.
作者姓名:邵海洋  邢怀中
作者单位:东华大学理学院
摘    要:利用ISE TCAD仿真软件,建立了铟镓砷(InGaAs)短波红外探测器表面漏电的二维模型。在背面照射方式下,模拟研究了InGaAs短波红外探测器的表面漏电对器件暗电流、总电流、量子效率和响应率的影响。研究结果表明,表面漏电会导致器件的暗电流和总电流增大,但响应率和量子效率会降低。由此可知,表面漏电是制约InGaAs短波红外探测器性能的重要影响因素,该研究结果为器件的设计与优化提供了理论依据。

关 键 词:表面漏电  InGaAs短波红外探测器  暗电流  响应率  量子效率

Photoelectric Mechanism of InGaAs Short Wavelength Infrared Detector
SHAO Haiyang,XING Huaizhong.Photoelectric Mechanism of InGaAs Short Wavelength Infrared Detector[J].Journal of Donghua University,2019(1):158-162.
Authors:SHAO Haiyang  XING Huaizhong
Institution:(College of Science, Donghua University, Shanghai 201620, China)
Abstract:SHAO Haiyang;XING Huaizhong(College of Science, Donghua University, Shanghai 201620, China)
Keywords:surface leakage  InGaAs short wavelength infrared detector  dark current  responsivity  quantum efficiency
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
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