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基于LSE改进EM算法的屏蔽数据下并联系统贮存可靠性分析
引用本文:余珊珊,张永进,张燕军,展佳慧. 基于LSE改进EM算法的屏蔽数据下并联系统贮存可靠性分析[J]. 南京理工大学学报(自然科学版), 2022, 46(3): 313-320. DOI: 10.14177/j.cnki.32-1397n.2022.46.03.009
作者姓名:余珊珊  张永进  张燕军  展佳慧
作者单位:安徽工业大学 数理科学与工程学院,安徽 马鞍山243002,扬州大学 机械工程学院,江苏 扬州225127
基金项目:国家自然科学基金(32072785);;安徽省自然科学基金(1808085MG220);;安徽省高校省级自然科学研究基金(KJ2021A0386);
摘    要:考虑产品贮存检测中存在系统失效数据信息被屏蔽的问题,针对并联系统,提出了一种基于最小二乘估计(LSE)改进期望最大化(EM)算法的贮存可靠性分析方法。鉴于产品开始进入贮存时非完全可靠的初始失效情形,建立了指数寿命分布下并联系统的贮存可靠性模型。考虑系统未失效数据中含有屏蔽数据,用改进的EM算法更新检测数据并给出了系统初始可靠度和失效率的LSE。通过算例分析验证了模型的有效性和方法的合理性。

关 键 词:最小二乘估计  期望最大化算法  屏蔽数据  并联系统  指数分布

Storage reliability analysis of parallel system based on LSE improving EM algorithm
Yu Shanshan,Zhang Yongjin,Zhang Yanjun,Zhan Jiahui. Storage reliability analysis of parallel system based on LSE improving EM algorithm[J]. Journal of Nanjing University of Science and Technology(Nature Science), 2022, 46(3): 313-320. DOI: 10.14177/j.cnki.32-1397n.2022.46.03.009
Authors:Yu Shanshan  Zhang Yongjin  Zhang Yanjun  Zhan Jiahui
Abstract:
Keywords:
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