| 测量磁涂层厚度的一种准确方法 |
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| 引用本文： | 寻培珏 李桂新. 测量磁涂层厚度的一种准确方法[J]. 应用科学学报, 1991, 9(3): 280-282 |
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| 作者姓名： | 寻培珏 李桂新 |
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| 作者单位： | 电子科学技术大学(寻培珏)，太原磁记录技术研究所(李桂新) |
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| 摘 要： | 一、引言 根据磁记录理论,记录密度D和输出幅度E(?)与磁涂层厚度t_m之间的关系由如下等式确定 由上面的等式可知,减薄t_m是提高记录密度的重要途径;而当记录时被磁化了的记录深度大于t_m时,输出幅度又随着t_m的减薄而下降。同时,要准确测量剩磁B_r,就必须准确地测量t_m。由此可见,磁涂层厚度是磁记录介质的一项重要指标。 为了优化软磁盘和磁带的生产工艺,我们提出用扫描电镜准确的测量磁涂层厚度。
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| 关 键 词： | 测量 磁涂层 磁记录 扫描电镜 |
A RIGOROUS METHOD OF MAGNETIC-LAYER THICKNESS MEASUREMENT |
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| XUN PEIJUE. A RIGOROUS METHOD OF MAGNETIC-LAYER THICKNESS MEASUREMENT[J]. Journal of Applied Sciences, 1991, 9(3): 280-282 |
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| Authors: | XUN PEIJUE |
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| Affiliation: | XUN PEIJUE(University of Electronic Science and Technology of China)LI GUIXIN (Taiyuan Institute of Magnetic Recording Technology) |
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| Abstract: | In this paper, we propose a rigorous method of magnetic-layer thickness measurement by means of scanning electron microscopy (SEM). The sample manufacturing technique is introduced, and the SEM pictures of the magnetic-layer thickness of a flexible disk are given. |
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| Keywords: | measurement method SEM flexible disk. |
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