| 数字系统功能级故障模型及测试产生方法 |
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| 引用本文： | 闵应骅,Stephen Y.H.Su.数字系统功能级故障模型及测试产生方法[J].应用科学学报,1985,3(3):241-248. |
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| 作者姓名： | 闵应骅 Stephen Y.H.Su |
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| 作者单位： | 1. 铁道科学研究院;2. State University of New York |
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| 摘 要： | 功能级故障测试由于特大规模集成电路技术的发展而变得越来越重要.和门级的固定为0(s-a-0)或固定为1(s-a-1)故障模型及D-算法相对应,本文对于用寄存器传输语言描述的数字系统,给出一个功能级的故障模型及测试产生的算法.
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| 收稿时间： | 1982-04-20 |
A FUNCTIONAL FAULT MODEL AND A TEST GENERATION PROCEDURE FOR DIGITAL SYSTEMS |
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| MIN YINGHUA,Stephen Y. H. Su.A FUNCTIONAL FAULT MODEL AND A TEST GENERATION PROCEDURE FOR DIGITAL SYSTEMS[J].Journal of Applied Sciences,1985,3(3):241-248. |
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| Authors: | MIN YINGHUA Stephen Y H Su |
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| Institution: | 1. China Academy of Railway Sciences, Beijing, China;2. State University of New York, Bingamton, New York, U. S. A |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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