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| 电位调制下单纳米颗粒的等离激元成像研究 | |
| 作者姓名： | 刘瑞红 王晖 陶农建 |
| 作者单位： | 南京大学化学化工学院 |
| 摘 要： | 表面等离激元共振显微镜(Surface Plasmon Resonance microscopy,SPRm)与电位调制的联用可用于分析自组装膜(Self-Assembled Monolayer,SAM)控制下电极表面不同距离的纳米颗粒.对单纳米颗粒的SPRm图像强度(DC成分)及对电位的响应(由快速傅里叶变换得到的振幅图像,或AC成分)进行了检测及分析.结果显示:DC图像强度与SAM层的厚度无任何关系,但图像的AC成分对厚度变化具有较高的灵敏度,这一现象可以用表面阻抗及表面电位与单纳米颗粒和电极之间距离的关系来解释.此方法具有高速、实时、灵敏及免标记等优势,为电极表面单纳米颗粒的电化学过程研究提供了可能. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |