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| 利用铁磁共振微分曲线测量铁磁共振线宽 | |
| 引用本文： | 尹光俊,廖绍彬,周丽年.利用铁磁共振微分曲线测量铁磁共振线宽[J].北京大学学报(自然科学版),1984(1). |
| 作者姓名： | 尹光俊 廖绍彬 周丽年 |
| 作者单位： | 北京大学物理系 (尹光俊，廖绍彬)，北京大学物理系(周丽年) |
| 摘 要： | 一 引言 利用铁磁共振仪测量铁磁共振线宽AH,通常是测出外线偏振磁化率对角组元的虚部Xe″随外稳恒磁场H_e的变化曲线(图1a),从1/2X_(max)~(e″)所对应的两个稳恒磁场的差值来确定△H。这样的方法要求样品产生的信号大,当被测样品所产生的信号很小时,特别是对一些薄膜样品,则无法进行测量。另外,对于半高点1/2X_(max)~(e″)所对应的H_(e1)和H_(e2)的位置,不能直接确定,它要先由X_(max)~(e″)和X_(min)~(e″)确定X1/2_(max)~(e″)再由1/2X_(max)~(e″)确定H_(e1)和H_(e2),这样容易产生较大的误差。而利用铁磁共振微分曲线,在一定程度上可克服上述缺点,它的灵敏度和准确性都较一般的铁磁共振仪高。 |
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