| 微处理器的随机测试长度研究 |
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| 引用本文： | 黄建文,陈欣荣,伏劲松. 微处理器的随机测试长度研究[J]. 江苏大学学报(自然科学版), 1992, 0(4) |
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| 作者姓名： | 黄建文 陈欣荣 伏劲松 |
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| 作者单位： | 江苏工学院计算机工程系(黄建文,陈欣荣),江苏工学院计算机工程系(伏劲松) |
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| 基金项目： | 中国科学院计算所CAD开放实验室资助项目 |
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| 摘 要： | 文章给出关于微处理器随机测试长度的计算方法:从模块级出发或从功能级出发,由最小检测概率计算最大测试长度。并获得实验证实。
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| 关 键 词： | 微处理器 随机/马尔柯夫链 功能块 |
Study of Random Test Length of Microprocessor |
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| Huang Jianwen Chen Xinrong Fu Jinsong. Study of Random Test Length of Microprocessor[J]. Journal of Jiangsu University:Natural Science Edition, 1992, 0(4) |
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| Authors: | Huang Jianwen Chen Xinrong Fu Jinsong |
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| Affiliation: | Huang Jianwen Chen Xinrong Fu Jinsong |
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| Abstract: | The paper presents the approach to calculation of the random test length of microprocessor, starting from the module of the circuit or the functional test and based on the concept of "minimum test probability", the maximum test length can be obtained. The results is verified by some experiments. |
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| Keywords: | microprocessors random / Markovian chain micromodules |
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