|
|||||
|
|
| 低能γ源X荧光光谱分析法测定黄金饰品中的含金量 | |
| 作者姓名： | 白尔隽 |
| 作者单位： | 深圳大学核技术应用联合研究所!深圳，518060 |
| 摘 要： | 利用低能γ放射性同位素源激发黄金饰品．通过X荧光光谱分析方法测定饰品中的含金量．测量精度可达0．2％． |
| 关 键 词： | 放射性同位素源 X荧光光谱分析 黄金饰品 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |