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纳米压印技术制备Si基GaN纳米柱图形化衬底
引用本文:周平,任霄钰,梁望,苑进社
. 纳米压印技术制备Si基GaN纳米柱图形化衬底
[J]. 重庆师范大学学报(自然科学版), 2014, 0(3): 97-99
作者姓名:周平  任霄钰  梁望  苑进社
作者单位:重庆师范大学 物理与电子工程学院,重庆401331;光电功能材料重庆市重点实验室,重庆401331
摘    要:采用纳米压印和反应离子刻蚀技术,通过实验研究反应离子刻蚀时间与GaN纳米柱高度的相关性,成功地在Si基GaN衬底上制备出了GaN纳米柱图形化衬底。SEM表征分析发现在图形化衬底上所制备的GaN纳米柱形貌均匀、排列整齐;室温光致发光光谱分析发现GaN纳米柱图形化衬底与GaN材料相比带边发光峰出现2.1nm的红移,发光强度增强。研究结果表明GaN纳米柱内应力得到释放且具有光子晶体的作用。


关 键 词:纳米压印  GaN纳米柱  PL谱

GaN Nanocolumns Patterned Substrates on Silicon Prepared by Nanoimprint Lithography
ZHOU Ping,REN Xiao-yu,LIANG Wang,YUAN Jin-she
. GaN Nanocolumns Patterned Substrates on Silicon Prepared by Nanoimprint Lithography
[J]. Journal of Chongqing Normal University:Natural Science Edition, 2014, 0(3): 97-99
Authors:ZHOU Ping  REN Xiao-yu  LIANG Wang  YUAN Jin-she
Abstract:
Keywords:
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