| 可靠性增长分析的整体推断技术 |
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| 引用本文： | 邓爱民,张士峰,陈循,杨华波. 可靠性增长分析的整体推断技术[J]. 系统工程与电子技术, 2004, 26(4): 560-562 |
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| 作者姓名： | 邓爱民 张士峰 陈循 杨华波 |
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| 作者单位： | 1. 国防科技大学机电工程与自动化学院,湖南,长沙,410073
2. 国防科技大学航天与材料工程学院,湖南,长沙,410073 |
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| 摘 要： | Gamma分布函数Γ(α,β)常常用作贝叶斯指数可靠性增长模型的先验分布密度函数,参数α、β值的不同,将使增长试验的评估结果有很大的差异。引入服从逆Gamma分布的折合因子,得到一种可靠性增长分析的整体推断技术。该技术是闭合的,具有递推分析形式。通过典型示例与其它确定分布参数的方法进行比较,可知这种方法更加接近工程实际。
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| 关 键 词： | 可靠性增长分析 指数分布 Bayesian方法 Gamma分布 |
| 文章编号： | 1001-506X(2004)04-0560-03 |
| 修稿时间： | 2002-11-24 |
Integrated inferring technology of reliability growth analysis |
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| DENG Ai-min,ZHANG Shi-feng,CHEN Xun,YANG Hua-bo. Integrated inferring technology of reliability growth analysis[J]. System Engineering and Electronics, 2004, 26(4): 560-562 |
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| Authors: | DENG Ai-min ZHANG Shi-feng CHEN Xun YANG Hua-bo |
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| Affiliation: | DENG Ai-min~1,ZHANG Shi-feng~2,CHEN Xun~1,YANG Hua-bo~2 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | reliability growth analysis exponential distribution bayesian approach gamma distribution |
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