首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

新鲜多孔硅(001)表面结构与电子特性理论研究
引用本文:邓小燕,杨春,郁卫飞,李金山.新鲜多孔硅(001)表面结构与电子特性理论研究[J].四川师范大学学报(自然科学版),2006,29(3):329-332.
作者姓名:邓小燕  杨春  郁卫飞  李金山
作者单位:1. 四川师范大学,计算机软件重点实验室,四川,成都,610066
2. 中国工程物理研究院,化工材料研究所,四川,绵阳,621000
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);中国物理研究院科研项目;四川省应用基础研究计划
摘    要:在周期边界条件下的k空间中,采用基于密度泛函理论的广义梯度近似(GGA)平面波超软赝势法,建立H12S i31几何模型来对表面主要被H覆盖的新鲜多孔硅(Porous S ilicon,PS)(001)表面最外层的S i—H键的几何结构和电子特性进行初步的理论研究.计算得到氢化PS(001)表面几何结构S i—H键长为0.148 nm、H—S i—H键角为106°,并通过原子布居数、电子密度图分析得到氢化PS表面原子的电子特性.

关 键 词:多孔硅  密度泛函理论  表面结构
文章编号:1001-8395(2006)03-0329-04
收稿时间:2005-08-10
修稿时间:2005年8月10日

Theorical Study on Electronic Properties and (001) Surface Structure of Fresh Porous Silicon
DENG Xiao-yan,YANG Chun,YU Wei-fei,LI Jin-shan.Theorical Study on Electronic Properties and (001) Surface Structure of Fresh Porous Silicon[J].Journal of Sichuan Normal University(Natural Science),2006,29(3):329-332.
Authors:DENG Xiao-yan  YANG Chun  YU Wei-fei  LI Jin-shan
Abstract:
Keywords:Porous silicon  Density functional theory  Surface structure
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号