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关于硅基片硬质掩膜形成的可行性研究
引用本文:新梅.关于硅基片硬质掩膜形成的可行性研究[J].大连民族学院学报,2001,3(3):7-9.
作者姓名:新梅
作者单位:大连民族学院,
摘    要:通过实验对热氧化工艺中的两种不同方法,即干氧氧化和水汽氧化进行了比较研究,证明了利用这种工艺形成硅基片硬质掩膜的可行性。

关 键 词:硅基片  硬质掩膜  可行性  热氧化工艺  干氧氧化  水汽氧化  热生长二氧化硅法  半导体工艺
文章编号:1009-315(2001)03-0007-03
修稿时间:2000年3月30日

The Feasibility of Forming Sheet Silicon's Hard Mask by Thermal Oxidation Technology
XIN Mei.The Feasibility of Forming Sheet Silicon''''s Hard Mask by Thermal Oxidation Technology[J].Journal of Dalian Nationalities University,2001,3(3):7-9.
Authors:XIN Mei
Abstract:
Keywords:photo-electric technique  thermal oxidation technology  hard mask
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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