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| Sm-Co非晶垂直磁化膜厚度的椭圆偏振法测量 | |
| 作者姓名： | 刘兴阶 易德兴 胡俊 李佐宜 |
| 作者单位： | 华中工学院固体电子学系(刘兴阶，易德兴，胡俊)，华中工学院固体电子学系(李佐宜) |
| 基金项目： | 中国科学院基金资助课题 |
| 摘 要： | 本文叙述了用椭圆偏振法测定Sm-Co非晶垂直磁化膜厚度的列线图法和搜索法,并对该膜样品进行了测量,结果表明这两种方法是简便可行的。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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