浅析M103/M106几何参数测试系统原理及方法

几何参数是半导体材料的重要参数之一,几何参数测量是半导体晶片生产中不可或缺的一部分。从一个半成品晶片到一个打磨好的、投入使用的晶片,几何参数为加工工程师提供了使生产过程始终处于控制之中并且保证线切割及研磨符合客户所需规格的必要信息。因此,在半导体工业中,必须快速稳定精确地对半导体材料的几何参数进行测量。目前,无接触测量是经常采用的一种方法,该方法原理简单,数据处理简便,为科研及生产单位广泛应用。