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等离子体隐身研究的关键性问题与研究技术路线的选择
引用本文:孙健,白希尧,依成武,储金宇.等离子体隐身研究的关键性问题与研究技术路线的选择[J].中国基础科学,2006,8(3):47-50.
作者姓名:孙健  白希尧  依成武  储金宇
作者单位:1. 大连海事大学物理系
2. 江苏大学生物与环境工程学院
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:本文分析了目前等离子体隐身研究存在的几个问题:(1)等离子体寿命短的问题———有的学者把放电通道中气体电离复合的ns级时间误认为源外的等离子体寿命,这是错误的,源外离子复合机率远小于10-6,几乎不存在寿命问题;(2)等离子体浓度问题———由于气体电离度不超过10-4,通常低气压射频辉光放电的等离子体浓度在1012/cm3左右,因此,有些学者提出的射频辉光放电产生的等离子体浓度可达到1019/cm3的观点是错误的;(3)电子束法隐身问题———由于电子束装置存在的电磁波会污染环境和干扰控制系统,再加上体积大、能耗高而无法实现飞行器的隐身;(4)研究隐身的环境问题———在玻璃真空罩环境中研究的结果无法用于飞行器上。为解决上述问题应走自主创新的研究路线,研制微型低能耗高电离度的非平衡等离子体源,以便尽快解决我国军事装备的隐身问题。

关 键 词:气体电离放电  等离子体源  隐身技术

Key Problems and the Technical Routes of the Plasma Stealth Study
Sun Jian,Bai Xiyao,Yi Chengwu,Chu Jinyu.Key Problems and the Technical Routes of the Plasma Stealth Study[J].China Basic Science,2006,8(3):47-50.
Authors:Sun Jian  Bai Xiyao  Yi Chengwu  Chu Jinyu
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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