基于最小二乘法的简易电阻测试仪再开发 |
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引用本文: | 胡奇,吴丛博.基于最小二乘法的简易电阻测试仪再开发[J].科技成果纵横,2012(4):55+58-55,58. |
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作者姓名: | 胡奇 吴丛博 |
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作者单位: | 1. 吉林工商学院 2. 北京理工大学理学院 |
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摘 要: | 对于常规电子仪器开发来说,电子元器件由于受到自身固有性能及外界客观环境因素的影响,往往在实际测量与理论计算之间存在一定的偏差.最终导致电子仪器的整体性能受到影响。为了更好地还原真实的理论现象。需要在理论计算和实验测量之间架起一座桥梁.使其能够从不准确的测量值过渡到最终准确的实际输出值。这里.常用到的方法就是数据回归或曲线拟合,那么,其中的核心算法就是最小二乘法。
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关 键 词: | 最小二乘法 电阻测试仪 再开发 电子元器件 仪器开发 环境因素 电子仪器 实际测量 |
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