首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

阈值光电子-光离子符合速度成像技术的初步应用
引用本文:唐小锋,周晓国,牛铭理,刘世林,刘付轶,单晓斌,盛六四. 阈值光电子-光离子符合速度成像技术的初步应用[J]. 中国科学技术大学学报, 2011, 41(5). DOI: 10.3969/j.issn.0253-2778.2011.05.004
作者姓名:唐小锋  周晓国  牛铭理  刘世林  刘付轶  单晓斌  盛六四
作者单位:1. 合肥微尺度物质科学国家实验室(筹),中国科学技术大学化学物理系,安徽合肥,230026
2. 中国科学技术大学国家同步辐射实验室,安徽合肥,230027
基金项目:国家自然科学基金,国家重点基础研究发展(973)计划
摘    要:基于同步辐射的闲值光电子-光离子符合速度成像技术采用双速度聚焦电场同时控制电子和离子的飞行轨迹,提高了收集效率和能量分辨率.应用该技术开展了一些原子和分子的实验研究,分别测量了相应的阈值光电子谱、阈值光电子-光离子符合质谱、阈值光电子-光离子符合光谱和阈值光电子-光离子符合速度成像,展现了该技术在离子结构分析、混合物成分辨别和具有态选择的离子解离动力学等方面的初步应用.

关 键 词:光电子-光离子符合  速度成像  阈值光电子  同步辐射

Initial applications of threshold photoelectron-photoion coincidence velocity imaging technique
TANG Xiaofeng,ZHOU Xiaoguo,NIU Mingli,LIU Shilin,LIU Fuyi,SHAN Xiaobin,SHENG Liusi. Initial applications of threshold photoelectron-photoion coincidence velocity imaging technique[J]. Journal of University of Science and Technology of China, 2011, 41(5). DOI: 10.3969/j.issn.0253-2778.2011.05.004
Authors:TANG Xiaofeng  ZHOU Xiaoguo  NIU Mingli  LIU Shilin  LIU Fuyi  SHAN Xiaobin  SHENG Liusi
Affiliation:TANG Xiaofeng1,ZHOU Xiaoguo1,NIU Mingli1,LIU Shilin1,LIU Fuyi2,SHAN Xiaobin2,SHENG Liusi2(1.Hefei National Laboratory for Physical Sciences at Microscale,Department of Chemical Physics,University of Science and Technology of China,Hefei 230026,China,2.National Synchrotron Radiation Laboratory,Hefei 230029,China)
Abstract:Threshold photoelectron-photoion coincidence(TPEPICO) velocity imaging based on synchrotron radiation ionization utilizes a double velocity map imaging to simulateneously control the trajectories of electron and ion,thus improving their collection efficiencies and energy resolutions.Using this technique,some experimental investigations of atoms and molecules were performed,and the corresponding threshold photoelectron spectroscopy(TPES),TPEPICO time-of-flight mass spectroscopy,TPEPICO spectroscopy,and TPEPI...
Keywords:photoelectron-photoion coincidence  velocity imaging  threshold photoelectron  synchrotron radiation  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号