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铜胁迫下玉米叶绿素质量比与光谱反射率关系
引用本文:刘帅,高永光. 铜胁迫下玉米叶绿素质量比与光谱反射率关系[J]. 辽宁工程技术大学学报(自然科学版), 2008, 27(1): 125-128
作者姓名:刘帅  高永光
作者单位:东华理工大学,地球科学学院,安徽,抚州,344000;中国人民解放军 61683部队,北京,100091
基金项目:国家自然科学基金,教育部高等学校博士学科点专项科研基金
摘    要:通过对不同程度重金属铜污染土壤(16个样本)上玉米叶绿素浓度和相应的玉米冠层光谱反射率数据测试,进行铜胁迫下玉米叶绿素浓度与光谱数据相关分析研究,研究结果表明:铜胁迫下玉米叶绿素浓度与其光谱反射率之间具有相关性,在350~695nm光谱区内相关性最好,且在464nm处两者达到最高的相关性;铜胁迫下玉米的"红边"随着铜污染程度的加剧而发生有规律地"蓝移";铜胁迫下玉米的"红边"波长位置与其叶绿素浓度之间具有很强的相关性,复相关系数为0.884,由此可看出利用野外地物光谱数据定量估算和分析铜胁迫下玉米的叶绿素浓度是可行的.

关 键 词:铜胁迫  高光谱遥感  光谱反射率  红边
文章编号:1008-0562(2008)01-0125-04
收稿时间:2006-11-07
修稿时间:2006-11-07

Relationship between cuprum cstress corn chlorophyll concentration and corn reflectance
LIU Shuai,GAO Yongguang. Relationship between cuprum cstress corn chlorophyll concentration and corn reflectance[J]. Journal of Liaoning Technical University (Natural Science Edition), 2008, 27(1): 125-128
Authors:LIU Shuai  GAO Yongguang
Abstract:
Keywords:Cu stress   hyperspectral remote sensing   spectral reflectance   red edge
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