半导体器件失效分析的重要性及关键问题研究 |
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引用本文: | 杨绸绸.半导体器件失效分析的重要性及关键问题研究[J].科技咨询导报,2009(10):4-4. |
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作者姓名: | 杨绸绸 |
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作者单位: | 燕山大学信息科学与工程学院,河北秦皇岛066004 |
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摘 要: | 本文对半导体器件失效分析的重要性及关键问题进行了阐述,认为失效分析对提高产品的可靠性具有非常重要的意义。失效分析的关键同意包括失效信息及失效数据的收集、失效预警及启动分析机制、信息反馈机制,专业技术及人员,善于总结,实现点到面的技术提升等方面。
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关 键 词: | 半导体器件 失效分析 |
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