可见和红外光学系统光轴平行性外场标定 |
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作者姓名: | 孟庆华 |
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作者单位: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033 |
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摘 要: | 光电经纬仪在外场使用一段时间后,可见和红外光学系统的光轴平行性可能发生变化,需要在外场进行标定.采用卡塞格林反射式平行光管进行子口径分束,利用平面反射镜对光束进行折转得到两束平行光.两束平行光分别对准红外和可见光学系统,利用亚像素细分技术计算质心可得到红外和可见光学系统平行性.实际结果表明:两束平行光平行性经标定后可达到1″,红外和可见光学系统平行性可达到7″.
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关 键 词: | 光电经纬仪 光轴平行性 外场标定 亚像素细分 |
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