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P—N—P型硅器件中辐射缺陷的衰减
引用本文:王顺寿,沈庆康.P—N—P型硅器件中辐射缺陷的衰减[J].扬州师院学报,1991,11(3):56-59.
作者姓名:王顺寿  沈庆康
摘    要:

关 键 词:MOS  P-N-P  硅器件  辐射  缺陷
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