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| 测量晶体相位延迟量的λ/4波片法研究 | |
| 作者姓名： | 孔超 李国华 |
| 作者单位： | 曲阜师范大学激光研究所,273165,山东省曲阜市;曲阜师范大学激光研究所,273165,山东省曲阜市 |
| 摘 要： | 在对晶体材料的光学性质的研究和对晶体器件延迟量的测量中，常因光源起伏影响测量精度，出现较大的测量误差．如果避开光源强度的起伏，将会使测量系统大大简化，同时使测量精度得以提高，减少测量误差．文章利用偏振光偏振态的变化，搭建一套测量系统．利用角度测量替代光强的直接测量，可比较精确地测量晶体的延迟量．由于该测量系统不需直接测量光强，避免了光强不稳定对测量结果的影响．与传统测量方法相比，该测量系统具有构造简单，不受光源起伏影响，以及测量精度高等特点． |
| 关 键 词： | 偏振光 波片 相位延迟 |
| 文章编号： | 1001-5337（2007）01-0069-03 |
| 修稿时间： | 2006-02-23 |
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