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Zn0.96Mn0.04O薄膜的制备及结构、磁性分析
引用本文:刘清华,曲蛟,史彬茹,刘永利.Zn0.96Mn0.04O薄膜的制备及结构、磁性分析[J].河北师范大学学报(自然科学版),2008,32(4).
作者姓名:刘清华  曲蛟  史彬茹  刘永利
作者单位:1. 邢台学院物理系,河北邢台,054001
2. 河北建筑工程学院数理系,河北张家口,075024
3. 河北交通职业技术学院,河北石家庄,050091
基金项目:国家自然科学基金 , 河北省自然科学基金
摘    要:采用射频溅射法制备了Zn0.96Mn0.04O薄膜样品,并对样品进行了结构和性能的检测,其中使用的靶材是通过标准固态反应法制备的.经过X射线衍射分析,样品均未被发现任何杂质相,都表现为纤锌矿结构.磁性测量表明,薄膜样品在室温下表现出较强的铁磁性,每个Mn离子的饱和磁化强度为1.05μB,矫顽力为0.01 T,居里温度高于400 K.分析表明,薄膜样品所检测到的铁磁性不是杂质相的贡献,而是MnZnO的内禀性质,并且生长环境及缺陷对样品的铁磁性产生了很大的影响.

关 键 词:Zn0.96Mn0.04O薄膜  射频溅射法  磁性

Preparation,Structural and Magnetic Properties Analysis of Zn0.96Mn0.04O Films
LIU Qing-hua,QU Jiao,SHI Bin-ru,LIU Yong-li.Preparation,Structural and Magnetic Properties Analysis of Zn0.96Mn0.04O Films[J].Journal of Hebei Normal University,2008,32(4).
Authors:LIU Qing-hua  QU Jiao  SHI Bin-ru  LIU Yong-li
Abstract:
Keywords:
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